Mordazas
Portaprobetas de acero para 5 insertos de probeta
Portaprobetas de acero para 1 inserto de probeta
Insertos portaprobetas
Portaprobetas para films
Mordazas de tornillo para probetas redondas
Portaprobetas de pinza
Calentador de probetas hasta 400°C para nanoindentación a alta temperatura
El calentador de probetas se puede instalar en el ZHN en lugar de en las mordazas estándar. Funciona con refrigeración pasiva y no requiere entrada de agua. Permite realizar mediciones de fuerza lateral y ensayos de rayado sin la aportación de fuerzas laterales.
Se emplearán dos circuitos de calefacción: Una placa calefactora está dispuesta bajo la probeta y hay un cilindro calefactor se encuentra en una cubierta encima de la probeta. Un vástago Macor alargado con punta de indentador en el extremo se introduce en la cubierta y se calienta con el volumen de aire que queda sobre la probeta. Los elementos calefactores incorporan sensores de temperatura PT100.
Después del ensayo se puede retirar la cubierta superior. Se puede llevar a cabo una inspección visual de la superficie de la probeta con un objetivo de largo alcance sin perder precisión de posicionamiento. La probeta y la placa calefactora se presionan por abajo contra un tope. No es necesario el uso de adhesivos para sujetar la probeta.
Cabezales de medición para nanoindentador ZHN
El durómetro nanomecánico universal ZHN combina dos cabezales: uno en sentido normal (nanoindentador) y otro en sentido lateral (microdurómetro para ensayos de rayado o "scratch"), de funcionamiento totalmente independiente y con una resolución nanométrica. Con ellos se pueden medir curvas de desplazamiento de fuerzas laterales, a partir de las cuales se obtienen todavía más parámetros de materiales (véanse los ejemplos de aplicaciones). Eso incluye la medición de la rigidez lateral y deformaciones laterales puramente elásticos de la probeta.
A diferencia de los equipos de otros fabricantes, los dos cabezales de medición trabajan en sentido de tracción y compresión, de modo que se pueden emplear tanto con un ensayo de penetración cíclico con oscilación superpuesta como con ensayo de fatiga cíclicos.
Normal Force Unit (NFU)
- Movimiento en sentido normal y elevada rigidez en sentido lateral gracias al sistema de resorte de hoja
- Construcción robusta
- No hay tope de los sensores inductivos en caso de sobrecarga y, con ello, no se producen daños
- El vástago puede soportar más peso sin salir del rango de medición. Se pueden utilizar sensores de medición de cualquier tipo perfectamente.
Lateral Force Unit (LFU)
- Mordazas con las probetas en el centro de los resortes de hoja dispuestas perpendicularmente
- Se pueden desplazar fácilmente en sentido lateral sin variación vertical de la posición de la probeta si hay suficiente rigidez en sentido normal
- Generación de fuerza desacoplada de la medición de fuerza
- Posible aplicación y medición de fuerzas laterales sin desplazamiento lateral
Descripción técnica
| N.º artículo | 1050945 | 1016415 | 1016416 | |
| Fuerza de ensayo, máx. (Fmáx.), normal1 | aprox.. 20 | aprox.. 2 | aprox.. 0,2 | N |
| Fuerza de ensayo, mín. (Fmín.), normal1 | aprox.. 2 | aprox.. 0,2 | aprox.. 0,05 | mN |
| Resolución digital medición de fuerza | ≤ 0,2 | ≤ 0,02 | ≤ 0,002 | μN |
| Ruido de fondo medición de fuerza | ≤ 202 | ≤ 23 | ≤ 0,23 | μN |
| Recorrido, máx. | aprox.. 2001 | aprox.. 2001 | aprox.. 2001 | μm |
| Resolución digital medición de recorrido | ≤ 0,002 | ≤ 0,002 | ≤ 0,002 | nm |
| Ruido de fondo medición de recorrido (1 σ a 8 Hz) | ≤ 0,4 | ≤ 0,3 | ≤ 0,3 | nm |
| Ruido de fondo medición de recorrido (1 σ a módulo closed loop 8 Hz) | ≤ 0,2 | ≤ 0,2 | ||
| Módulo dinámico4 | ||||
| Frecuencia de oscilación, máx. | 300 | 300 | 300 | Hz |
| Frecuencia máx. para evaluación de rigidez | 75 | 75 | 25 | Hz |
| Velocidad de adquisición de datos | 40 | 40 | 40 | kHz |
| Amplitud de fuerza, máx. de oscilación | > 100 | > 100 | > 100 | mN |
- Compresión (p. ej. ensayo de penetración instrumentado) y tracción (p. ej: mediciones de adhesión en líquidos)
- a 2 N, ≤ 65 a 20 N
- Signal-to-noise ratio 106
- solo en combinación con el módulo de software QCSM
| Descripción | Valor | |
| N.º artículo | 1021148 | |
| Fuerza de ensayo, máx. (Fmáx.), lateral1 | aprox.. 2 | N |
| Resolución digital medición de fuerza | ≤ 0,02 | μN |
| Ruido de fondo medición de fuerza | ≤ 6 | μN |
| Recorrido, máx.1 | aprox.. 75 | μm |
| Resolución digital medición de recorrido | ≤ 0,002 | nm |
| Ruido de fondo medición de recorrido | ≤ 0,5 | nm |
- Compresión y tracción
Opciones de óptica
De forma estándar, se incluye el microscopio tándem con un objetivo de 50 aumentos en el volumen de suministro. De forma opcional, ofrecemos un objetivo de 50 aumentos con distancia de trabajo ampliada. Además, también existe la opción de conectar como segundo objetivo un objetivo de 5 aumentos o un interferómetro de luz blanca.
La nanoindentación y la microscopía de fuerza atómica (AFM) se pueden conectar en un único sistema para poder realizar un extenso análisis (semi) automatizado. En un primer paso, el microscopio de fuerza atómica mide la rugosidad de la superficie y ayuda a definir la profundidad de penetración mínima. A continuación, se coloca la probeta bajo el nanoindentador para llevar a cabo un análisis mecánico en el mismo punto. En un último paso, se puede mover este punto bajo el AFM para entender las propiedades inducidas por el estrés, tales como, acumulación de material, hundimiento o fisuras para poder caracterizar y entender la profundidad. Dichos efectos pueden tener un efecto sobre los valores obtenidos para la dureza y el módulo de elasticidad.
Ventajas de la óptica
- Objetivo de 50 aumentos – el haz de luz se emite a través de un divisor de haz y lentes intermedias
- Posibilidades de la imagen óptica:
Definición de puntos de medición- Medición de distancias y perímetros
- Aproximación y visualización de puntos de medición existentes con tan sólo pulsar un botón
- Control de iluminación y parámetros de imagen
- Mostrar escalas y tiempos de grabación
- Gracias a la eliminación del cambio mecánicos de objetivo, se alcanza una elevada precisión de posicionamiento y un rápido cambio de lentes
- Las superficies poco reflectantes, como los cristales, se visualizan correctamente
- Función de autoenfoque para encontrar la altura correcta para obtener una imagen nítida
- Elaboración automática de imágenes de los puntos de medición (programable)
- Vista general compuesta por todas las imágenes con profundidad de campo
Más accesorios para ZHN
Cerramiento para reducción acústica/térmica
Sistemas de amortiguación/mesa de montaje
