Applications
- Essai de dureté selon ISO 14577
- Tests dynamiques
Charge d'essai
- 0 - 0,2 N
Domaine d'utilisation
- Recherche & Développement (dans un SEM)
Petit mais haute résolution
Le nano-indenteur ZHN/SEM pour installation dans un microscope électronique à balayage (SEM) permet la mise en œuvre d'expériences micro-mécaniques tout en observant l'éprouvette avec une résolution très élevée. Il offre la plus large plage de mesure du marché avec une mesure de course maximale de 200 μm et une mesure de force maximale de 200 mN ainsi qu'un très faible bruit des capteurs de foce et de course dans un environnement soumis à de faibles vibrations. La rigidité élevée de l'appareil permet la réalisation des mesures de dureté classiques.
Le système a été conçu pour une installation sur la table d'un microscope SEM, mais peut également être fixé au mur pour une utilisation optimisée des options de basculement et déplacement de la table SEM.
Le système se compose de:
- la tête de mesure avec capteur et actuateur
- un système de table Piezo pour déplacement des éprouvettes en direction XY et rotation optionnelle autour de l'axe du pénétrateur
- une table mécanique rigide en Z pour le déplacement de la tête de mesure en direction de l'éprouvette
- PC et contrôleur
- logiciel simple et interactif
- une ou deux brides avec passages (spécifique SEM)
Avantages et caractéristiques
- Le pénétrateur peut être adapté sur demande à de nombreuses applications.
- Le contrôle de la force et de la course en boucle fermée ou ouverte est proposé.
- Une méthode de mesure dynamique avec fréquences jusqu'à 100 Hz pour mesures de rigidité en fatigue et en continu est offert en option.
- La tête de mesure peut être utilisée en direction de compression et de traction sur toute la plage de mesure.
- Enregistrement vidéo simultané Grâce à la transmission des données par TCP-IP, l'image enregistrée peut être visionnée sur l'ordinateur SEM dans une fenêtre supplémentaire.
Aperçu technique
| Description | Valeur | |
| N° Article | 1020054 | |
| Type | ZHN/SEM | |
| Capacité, maxi (Fmax) | env. 200 | mN1 |
| Déplacement, maxi. | env. 200 μm à 20 mN; env. 1500 μm à 200 mN | |
| Résolution de force, numérique | ≤ 0,02 | μN |
| Résolution de course, numérique | ≤ 0,001 | nm |
| Niveau de bruit de la mesure de force (SEM) | ≤ 0,5 | μN |
| Niveau de bruit de la mesure de course (SEM) | ≤ 0,5 | nm |
| Système de table | ||
| Table X et Y Plage de mouvement (standard) | 21 x12 | mm |
| Table X et Y Précision de positionnement | ≤ 50 | nm |
| Table X et Y Résolution du système de mesure | 1 | nm |
| Table Z: Plage de mouvement | 15 (optionnel 25) | mm |
| Table Z: Précision de positionnement | ≤ 0,1 | μm |
| Table Z: Résolution du système de mesure | 50 | nm |
- Compression et traction
Exemples d'applications du ZHN/SEM
Adaptation du nano-indenteur sur un microscope électronique à balayage
La fabrication d'adaptateurs et options de réglage ainsi que les passages électriques est entièrement réalisée d'après vos prescriptions.
Essai de compression sur mono-cristal de cuivre
Image SEM de colonnes de cuivre [1 0 0] avec une section de 2 x 2 μm, enregistrée in-situ d'après (a) compression 3,3 % (b) compression 13,4 % (c) compression 23,4 % (d) éprouvette déchargée avec orientation cristalline initiale et plans de glissement actifs. © Dr. C. Motz, Universität des Saarlandes, Deutschland (Université de Sarre, Allemagne)
Détermination de la ténacité à la rupture sur tungstène
Les barreaux de flexion ont été chargés in-situ avec un pénétrateur Corner Cube. La vitesse de chargement et de déchargement était de 1 mm/min pour toutes les éprouvettes. Une propagation stable de la fissure a été observée sur toutes les éprouvettes. © Dr. Wurster, ESI Leoben, Österreich (ESI Leoben, Autriche)
Détermination de la plasticité cristalline liée à la taille
Image SEM d'une éprouvette pendant un essai de traction in-situ (a-e) et après déchargement (f). Les positions correspondantes à l'intérieur de la courbe de contrainte-allongement sont représentées dans le graphique. Une seconde étape de déchargement et chargement est indiquée par des flèches. © Dr. Kiener , ESI Leoben, Österreich (ESI Leoben, Autriche)
