Accessoires pour le nano indenteur ZHN
Accessoires et chauffe-échantillons
Le testeur nanomécanique universel ZHN est conçu pour la détermination de la dureté et du module de Young sur matériaux et systèmes stratifiés. Afin de couvrir l’ensemble des essais, ZwickRoell vous propose différents accessoires.
Mâchoires
Chauffe-échantillons jusqu’à 400°C pour nano indentation haute température
Le chauffe-échantillons s'adapte dans le ZHN à la place de la mâchoire standard. Il fonctionne par refroidissement passif et ne requiert aucun approvisionnement en eau. Cela permet des mesures de force latérale et Scratch tests sans utilisation de la force latérale.
Deux circuits de chauffage sont utilisés: Une plaque chauffante est disposée en-dessous de l'éprouvette et un cylindre chauffant, logé dans un couvercle au-dessus de l'éprouvette. Une tige Macor, prolongée par la pointe du pénétrateur, pénètre dans le couvercle, puis est chauffée simultanément au volume d'air au-dessus de l'éprouvette. Des sondes de température PT100 sont intégrées aux éléments chauffants.
Le couvercle supérieur peut être retiré après essai. Un contrôle visuel de la surface éprouvette peut alors être réalisé avec une lentille longue portée, sans perdre la précision de positionnement. Une butée presse l'éprouvette et la plaque chauffante par en bas. Aucun adhésif n'est nécessaire à la fixation de l'éprouvette.
Têtes de mesure pour le nano indenteur ZHN
Le testeur nanomécanique universel ZHN associe deux têtes de mesure de dureté, en direction normale (principe du nanoindenteur), et en direction latérale (principe du Stratch testeur); toutes deux travaillent de manière indépendante l'une de l'autre avec une résolution nanométrique. Des courbes de force-déplacement latérales, permettant d'obtenir davantage de paramètres de matériaux que précédemment, sont ainsi mesurées (voir exemples d'applications). Cela comprend la mesure de la rigidité latérale et la déformation purement élastique de l'éprouvette.
Contrairement aux appareils d'autres fabricants, les têtes de mesure fonctionnent tant en direction de traction que de compression, permettant de réaliser des essais de pénétration par superposition de vibrations que des essais de fatigue cycliques.
Normal Force Unit (NFU)
- Le système de double ressort à lames garantit une mobilité élevée en direction normale et une rigidité élevée en direction latérale
- Conception robuste
- Pas d'impact des capteurs inductifs en cas de surcharge et donc pas de dommage
- L'arbre peut supporter des poids plus importants sans quitter la plage de mesure. Utilisation possible de pointes de mesure spécifiques client.
Lateral Force Unit (LFU)
- Mâchoires permettant le centrage de l'éprouvette entre les ressorts à lames
- Déplacement aisé en direction latérale sans changement de la position éprouvette à la verticale avec une rigidité suffisante en position normale
- Création de la force découplée par la mesure de la force
- Possibilité d'utilisation et mesure des forces latérales sans déplacement latéral
Aperçu technique
N° Article | 1050945 | 1016415 | 1016416 | |
Capacité, maxi (Fmax), normal1 | env. 20 | env. 2 | env. 0,2 | N |
Capacité , min. (Fmin), normal1 | env. 2 | env. 0,2 | env. 0,05 | mN |
Mesure de la force, résolution numérique | ≤ 0,2 | ≤ 0,02 | ≤ 0,002 | μN |
Mesure de la froce, bruit | ≤ 202 | ≤ 23 | ≤ 0,23 | μN |
Course, maxi. | env. 2001 | env. 2001 | env. 2001 | μm |
Mesure de la course, résolution numérique | ≤ 0,002 | ≤ 0,002 | ≤ 0,002 | nm |
Mesure de la course, bruit (1 σ à 8 Hz) | ≤ 0,4 | ≤ 0,3 | ≤ 0,3 | nm |
Mesure de la course, bruit (1 σ at closed loop module) | ≤ 0,2 | ≤ 0,2 | ||
Module dynamique4 | ||||
Fréquence d'oscillation, maxi. | 300 | 300 | 300 | Hz |
Fréquence, maxi. pour exploitation de la boucle | 75 | 75 | 25 | Hz |
Taux d'acquisition des valeurs mesurées | 40 | 40 | 40 | kHz |
Amplitude de force, max. de l'oscillation | > 100 | > 100 | > 100 | mN |
- Compression (par exemple, essai de pénétration instrumenté) et traction (par exemple, mesures d'adhésion sur fluides)
- à 2 N, ≤ 65 à 20 N
- signal-to-noise ratio 106
- avec le module logiciel QCSM, uniquement
Description | Valeur | |
N° Article | 1021148 | |
Capacité, maxi (Fmax), latéral1 | env. 2 | N |
Mesure de la force, résolution numérique | ≤ 0,02 | μN |
Mesure de la froce, bruit | ≤ 6 | μN |
Course, maxi.1 | env. 75 | μm |
Mesure de la course, résolution numérique | ≤ 0,002 | nm |
Mesure de la course, bruit | ≤ 0,5 | nm |
- Compression et traction
Différentes options de l'optique
Le microscope tandem avec objectif 50x est en principe fourni avec le système d'essais. Un objectif 50x avec distance de travail augmentée pourra également vous être proposé en option. Un objectif 5x ou un interféromètre à lumière blanche peut également être relié comme second objectif.
La nanoindentation et la macroscopie à force atomique (AFM) peuvent être couplées dans un seul système pour permettre une analyse complète et semi-automatisée. Dans un premier temps, le microscope à force atomique mesure la rugosité de surface et aide ainsi à définir la profondeur de pénétration minimale. L'éprouvette est ensuite positionnée sous le nano-indentateur, pour réaliser une analyse mécanique sur le même emplacement. Pour terminer, vous pourrez à nouveau déplacer cette zone sous l'AFM, afin de caractériser les propriétés induites par la contrainte (accumulations de matériau, retassures ou fissures autour de la cavité) et de les comprendre. Ces effets peuvent avoir un impact sur les valeurs obtenues pour le module de dureté et pour le module d'élasticité.
Avantages de l’optique
- Objectif 50x – trajectoire du faisceau guidée vers deux caméras à l'aide de séparateurs de faisceau et d'une optique intermédiaire
- Caractéristiques de l'image:
Définition des points de mesure- Mesure des distances et amplitudes
- Arrêt sur les points de mesure existants et affichage des coordonnées par pression d'un bouton
- Régulation de l'éclairage et des paramètres d'image
- Affichage des échelles de mesure et temps d'enregistrement
- Précision de positionnement élevée et commutation rapide entre objectifs
- Bonne qualité d'image - y compris sur les surfaces faiblement réfléchissantes
- Fonction de mise au point automatique garantissant une image précise et nette
- Création automatique d'images des emplacements mesurés (programmable)
- Image d'ensemble composée de plusieurs images avec grande profondeur de champ