Pindah ke halaman konten

Aksesoris untuk ZHN nanoindenter

Specimen grips dan specimen heater

Penguji nanomekanis universal ZHN dirancang untuk menentukan kekerasan dan Modulus Young pada bahan dan sistem pelapisan. ZwickRoell menawarkan berbagai asesori untuk berbagai aplikasi.

    Specimen heater hingga 400 °C untuk nanoindentation suhu tinggi

    Pemanas spesimen dapat dipasang di ZHN sebagai pengganti pemegang spesimen standar. Ini menggunakan pendinginan pasif dan tidak memerlukan pasokan air. Hal ini memungkinkan pengukuran gaya lateral dan pengujian gores tanpa kontribusi gaya lateral.

    Dua sirkuit pemanas digunakan. Pelat pemanas ditempatkan di bawah spesimen dan silinder pemanas diletakkan di dalam penutup di atas spesimen. Batang Macor yang diperpanjang dengan ujung indentor di ujungnya mencapai penutup dan dipanaskan bersama dengan volume udara terkompresi di atas spesimen. Sensor suhu PT100 terintegrasi dalam elemen pemanas.

    Penutup atas dapat dilepas setelah pengujian. Inspeksi visual dari permukaan spesimen dapat dilakukan sebelumnya dengan menggunakan lensa jarak jauh sehingga akurasi posisi tidak hilang. Spesimen dan pelat pemanas ditekan dari bawah hingga berhenti. Tidak diperlukan perekat untuk memperbaiki spesimen.

    Measuring heads untuk ZHN nanoindenter

    Penguji nanomekanis universal ZHN menggabungkan dua kepala pengukur dalam arah normal (prinsip nanodindenter) dan lateral (prinsip penguji gores), beroperasi sepenuhnya secara independen satu sama lain dengan resolusi nanometer. Kurva perpindahan gaya lateral sekarang dapat diukur untuk pertama kalinya, memungkinkan lebih banyak parameter material diperoleh daripada yang sebelumnya mungkin (lihat Aplikasi Khas). Ini termasuk pengukuran kekakuan lateral dan deformasi lateral murni elastis dari spesimen.

    Berbeda dengan instrumen oleh pabrikan lain, kedua kepala pengukur beroperasi pada arah tarik dan kompresi, memungkinkan uji indentasi dengan osilasi yang ditumpangkan serta cyclic fatigue tests

    Unit Gaya Normal (NFU)

    • Gerakan ke arah normal dan kekakuan tinggi ke arah lateral berkat sistem pegas daun ganda
    • Konstruksi yang kokoh
    • Tidak ada sensor induktif yang berhenti jika terjadi kelebihan beban dan karenanya tidak ada kerusakan
    • Dapat bergerak dengan mudah ke arah lateral tanpa perubahan vertikal ke posisi spesimen jika terdapat kekakuan yang cukup pada arah normal

    Lateral Force Unit (LFU)

    • Spesimen menggenggam spesimen di tengah pegas daun yang posisinya tegak lurus
    • Dapat bergerak dengan mudah ke arah lateral tanpa perubahan vertikal ke posisi spesimen jika terdapat kekakuan yang cukup pada arah normal
    • Pembangkitan gaya dipisahkan dari pengukuran gaya
    • Penerapan dan pengukuran gaya lateral tanpa gerakan lateral mungkin

    Ikhtisar teknis

    Optik Modular

    Anda dapat menambah jumlah kemungkinan metode pengukuran dan menggabungkan ZHN nanoindenter dengan sistem optik kami yang berbeda, seperti AFM terintegrasi.

    Berbagai opsi optik

    Sebagai standar, mikroskop tandem dan lensa 50x termasuk dalam cakupan suplai ZHN. Lensa 50x dengan jarak kerja diperpanjang tersedia sebagai pilihan. Selain itu, terdapat opsi untuk mengintegrasikan lensa 5x atau interferometer cahaya putih sebagai lensa kedua.

    Nanoindentation dan atomic force microscopy (AFM) dapat digabungkan dalam satu sistem untuk memungkinkan analisis komprehensif (semi) otomatis. Sebagai langkah pertama mikroskop gaya atom mengukur kekasaran permukaan; ini membantu untuk menentukan kedalaman lekukan minimum. Spesimen kemudian diposisikan di bawah nanoindenter untuk memungkinkan analisis mekanis dilakukan di lokasi yang sama. Pada langkah terakhir, lokasi ini dapat dipindahkan kembali ke bawah AFM untuk memungkinkan karakterisasi dan pemahaman tentang sifat yang diinduksi oleh tegangan seperti material "pile-up" dan "sink-in" atau retakan di sekitar indentasi. Efek ini kemudian dapat mempengaruhi nilai yang diperoleh untuk kekerasan dan modulus Young.

    Keunggulan dari optik

    • Lensa obyektif 50x - jalur optik diarahkan ke dua kamera melalui pemecah sinar dan lensa perantara
    • Dalam gambar optik dimungkinkan untuk

      • tentukan titik pengukuran
      • mengukur jarak dan keliling
      • meninjau dan menampilkan titik pengukuran yang ada dengan menekan sebuah tombol
      • mengontrol pencahayaan dan parameter gambar
      • menunjukkan skala dan waktu perekaman
    • Penghapusan penggantian lensa mekanis memungkinkan akurasi pemosisian tinggi dan peralihan cepat antar pembesaran
    • Pencitraan berkualitas tinggi dapat dilakukan bahkan untuk permukaan dengan pantulan rendah seperti kaca
    • Fungsi fokus otomatis menetapkan ketinggian yang tepat untuk gambar yang tajam
    • Pembuatan gambar titik pengukuran secara otomatis (dapat diprogram)
    • Gambar ikhtisar terdiri dari gambar individual dengan kedalaman bidang yang besar

    Unduhan

    Nama Jenis Ukuran Unduh
    • Informasi produk: ZHN – universal nanomechanical testing system PDF 2 MB
    • Informasi produk: Specimen grips untuk ZHN nanoindenter PDF 361 KB

    Kembali ke ZHN nanoindenter

    Nanoindenter ZHN

    Nanoindenter ZHN digunakan untuk karakterisasi mekanis yang komprehensif dari lapisan tipis atau area permukaan kecil dengan resolusi gaya dan pergerakan yang diperlukan. Ini termasuk mengukur kekerasan indentasi, modulus indentasi, dan kekerasan Martens sesuai ISO 14577 (pengujian indentasi berinstrumen).
    ke Nanoindenter ZHN
    Top