Spesimen grip
Steel specimen holder untuk 5 specimen inserts
Tempat spesimen baja untuk 1 sisipan spesimen
Specimen holder insert
Specimen holder untuk films
Screws grips untuk round specimens
Clamp-type spesimen holder
Specimen heater hingga 400 °C untuk nanoindentation suhu tinggi
Pemanas spesimen dapat dipasang di ZHN sebagai pengganti pemegang spesimen standar. Ini menggunakan pendinginan pasif dan tidak memerlukan pasokan air. Hal ini memungkinkan pengukuran gaya lateral dan pengujian gores tanpa kontribusi gaya lateral.
Dua sirkuit pemanas digunakan. Pelat pemanas ditempatkan di bawah spesimen dan silinder pemanas diletakkan di dalam penutup di atas spesimen. Batang Macor yang diperpanjang dengan ujung indentor di ujungnya mencapai penutup dan dipanaskan bersama dengan volume udara terkompresi di atas spesimen. Sensor suhu PT100 terintegrasi dalam elemen pemanas.
Penutup atas dapat dilepas setelah pengujian. Inspeksi visual dari permukaan spesimen dapat dilakukan sebelumnya dengan menggunakan lensa jarak jauh sehingga akurasi posisi tidak hilang. Spesimen dan pelat pemanas ditekan dari bawah hingga berhenti. Tidak diperlukan perekat untuk memperbaiki spesimen.
Measuring heads untuk ZHN nanoindenter
Penguji nanomekanis universal ZHN menggabungkan dua kepala pengukur dalam arah normal (prinsip nanodindenter) dan lateral (prinsip penguji gores), beroperasi sepenuhnya secara independen satu sama lain dengan resolusi nanometer. Kurva perpindahan gaya lateral sekarang dapat diukur untuk pertama kalinya, memungkinkan lebih banyak parameter material diperoleh daripada yang sebelumnya mungkin (lihat Aplikasi Khas). Ini termasuk pengukuran kekakuan lateral dan deformasi lateral murni elastis dari spesimen.
Berbeda dengan instrumen oleh pabrikan lain, kedua kepala pengukur beroperasi pada arah tarik dan kompresi, memungkinkan uji indentasi dengan osilasi yang ditumpangkan serta cyclic fatigue tests
Unit Gaya Normal (NFU)
- Gerakan ke arah normal dan kekakuan tinggi ke arah lateral berkat sistem pegas daun ganda
- Konstruksi yang kokoh
- Tidak ada sensor induktif yang berhenti jika terjadi kelebihan beban dan karenanya tidak ada kerusakan
- Dapat bergerak dengan mudah ke arah lateral tanpa perubahan vertikal ke posisi spesimen jika terdapat kekakuan yang cukup pada arah normal
Lateral Force Unit (LFU)
- Spesimen menggenggam spesimen di tengah pegas daun yang posisinya tegak lurus
- Dapat bergerak dengan mudah ke arah lateral tanpa perubahan vertikal ke posisi spesimen jika terdapat kekakuan yang cukup pada arah normal
- Pembangkitan gaya dipisahkan dari pengukuran gaya
- Penerapan dan pengukuran gaya lateral tanpa gerakan lateral mungkin
Ikhtisar teknis
| Item No. | 1050945 | 1016415 | 1016416 | |
| Beban uji, maks. (Fmax), normal1 | kira-kira 20 | kira-kira 2 | kira-kira 0,2 | N |
| Beban uji, min. ( Fmin ), normal1 | kira-kira 2 | kira-kira 0,2 | kira-kira 0,05 | mN |
| Resolusi digital, pengukuran gaya | ≤0,2 | ≤0,02 | ≤0,002 | μN |
| Kebisingan latar belakang, pengukuran gaya | ≤202 | ≤23 | ≤0,23 | μN |
| Perpindahan, maks. | kira-kira 2001 | kira-kira 2001 | μm | |
| Resolusi digital, pengukuran perpindahan | ≤0,002 | ≤0,002 | ≤0,002 | nm |
| Kebisingan latar belakang, pengukuran perpindahan (1 σ pada 8 Hz) | ≤0,4 | ≤0,3 | ≤0,3 | nm |
| Kebisingan latar belakang, pengukuran perpindahan (1 σ pada modul loop tertutup) | ≤0,2 | |||
| Modul dinamis4 | ||||
| Frekuensi osilasi, maks. | 300 | 300 | 300 | Hz |
| Max. frekuensi untuk evaluasi kekakuan | 75 | 75 | 25 | Hz |
| Tingkat akuisisi data | 40 | 40 | 40 | kHz |
| Max. gaya amplitudo osilasi | > 100 | > 100 | > 100 | mN |
| Kebisingan latar belakang, pengukuran perpindahan (1 σ pada modul loop tertutup)Kebisingan latar belakang, pengukuran perpindahan (1 σ pada 8 Hz) | ≤0,2 | |||
| Perjalanan, maks. | kira-kira 2001 | |||
- Kompresi (misalnya indentasi berinstrumen) dan tarik (misalnya uji adhesi pada cairan)
- pada 2 N, ≤ 65 pada 20 N
- Rasio signal-to-noise 10 6
- hanya dalam hubungannya dengan modul perangkat lunak QCSM
| Deskripsi | Nilai | |
| Item No. | 1021148 | |
| Beban uji, maks. ( Fmax ), menyamping1 | kira-kira 2 | N |
| Resolusi digital, pengukuran gaya | ≤ 0,02 | μN |
| Kebisingan latar belakang, pengukuran gaya | ≤ 6 | μN |
| Perjalanan, maks.1 | kira-kira 75 | μm |
| Resolusi digital, pengukuran perpindahan | ≤ 0,002 | nm |
| Kebisingan latar belakang, pengukuran perpindahan | ≤ 0,5 | nm |
- kompresi dan tarik
Berbagai opsi optik
Sebagai standar, mikroskop tandem dan lensa 50x termasuk dalam cakupan suplai ZHN. Lensa 50x dengan jarak kerja diperpanjang tersedia sebagai pilihan. Selain itu, terdapat opsi untuk mengintegrasikan lensa 5x atau interferometer cahaya putih sebagai lensa kedua.
Nanoindentation dan atomic force microscopy (AFM) dapat digabungkan dalam satu sistem untuk memungkinkan analisis komprehensif (semi) otomatis. Sebagai langkah pertama mikroskop gaya atom mengukur kekasaran permukaan; ini membantu untuk menentukan kedalaman lekukan minimum. Spesimen kemudian diposisikan di bawah nanoindenter untuk memungkinkan analisis mekanis dilakukan di lokasi yang sama. Pada langkah terakhir, lokasi ini dapat dipindahkan kembali ke bawah AFM untuk memungkinkan karakterisasi dan pemahaman tentang sifat yang diinduksi oleh tegangan seperti material "pile-up" dan "sink-in" atau retakan di sekitar indentasi. Efek ini kemudian dapat mempengaruhi nilai yang diperoleh untuk kekerasan dan modulus Young.
Keunggulan dari optik
- Lensa obyektif 50x - jalur optik diarahkan ke dua kamera melalui pemecah sinar dan lensa perantara
- Dalam gambar optik dimungkinkan untuk
tentukan titik pengukuran- mengukur jarak dan keliling
- meninjau dan menampilkan titik pengukuran yang ada dengan menekan sebuah tombol
- mengontrol pencahayaan dan parameter gambar
- menunjukkan skala dan waktu perekaman
- Penghapusan penggantian lensa mekanis memungkinkan akurasi pemosisian tinggi dan peralihan cepat antar pembesaran
- Pencitraan berkualitas tinggi dapat dilakukan bahkan untuk permukaan dengan pantulan rendah seperti kaca
- Fungsi fokus otomatis menetapkan ketinggian yang tepat untuk gambar yang tajam
- Pembuatan gambar titik pengukuran secara otomatis (dapat diprogram)
- Gambar ikhtisar terdiri dari gambar individual dengan kedalaman bidang yang besar
Aksesoris ZHN tambahan
Penahan untuk insulasi termal / akustik
Sistem redaman / meja pendukung
