시편 그립
시편 삽입부 5개를 위한 강철 시편 홀더
시편 삽입부 1개를 위한 강철 시편 홀더
시편 홀더 삽입부
필름용 시편 홀더
원형 시편용 스크류 그립
클램프형 시편 홀더
고온 나노 압흔을 위한 최대 400°C 시편 히터
표준 시편 홀더 대신 시편 히터를 ZHN에 설치할 수 있습니다. 시편 히터는 수동 냉각을 사용하며, 급수 시설이 필요하지 않습니다. 이를 통해 가로 방향력을 측정하고 가로 방향력 요인 없이 긁기 시험을 수행할 수 있습니다.
2개의 가열 회로를 사용합니다. 가열판은 시편 아래에 있고, 가열 실린더는 시편 위 덮개에 있습니다. 끝에 압자 끝부분이 있는 확장형 Macor 막대가 덮개까지 오며, 시편 위의 압축 공기 부피와 함께 가열됩니다. PT100 온도 센서가 발열체에 내장되어 있습니다.
상부 덮개는 시험 후에 떼어낼 수 있습니다. 위치 결정 정확도가 저하되지 않도록 장거리 렌즈를 사용하여 시편 표면을 육안으로 검사할 수 있습니다. 시편과 가열판을 정지판에 대고 아래에서 누릅니다. 시편 고정을 위한 접착제가 필요하지 않습니다.
ZHN 나노 압자용 측정 헤드
ZHN 만능나노기계시험기는 수직(나노압자 원리) 및 측면(긁기 시험기 원리) 방향에서 두 개의 측정 헤드를 결합하고, 나노미터 분해능으로 서로 완전히 독립적으로 작동합니다. 이제 최초로 가로 방향력-변위 곡선을 측정하여 이전에 가능했던 것 보다 더 많은 재료 파라미터를 획득할 수 있습니다(일반 응용 분야 참조). 여기에는 시편의 측방향 강성과 순수 탄성 측면 변형 측정이 포함됩니다.
다른 제조업체의 설비와 달리, 두 측정 헤드 모두 인장 및 압축 방향에서 작동하기 때문에 중첩 진동과 반복적인 피로 시험으로 압흔 시험을 수행할 수 있습니다.
기술 개요
| 품목 번호 | 1050945 | 1016415 | 1016416 | |
| 시험 하중, 최대, Fmax, 표준1 | 약 20 | 약 2 | 약 0.2 | N |
| 시험 하중, 최소, Fmin, 표준1 | 약 2 | 약 0.2 | 약 0.05 | mN |
| 디지털 해상도, 힘 측정 | ≤ 0.2 | ≤ 0.02 | ≤ 0.002 | μN |
| 배경 잡음, 힘 측정 | 2N에서2 | ≤ 23 | ≤ 0.23 | μN |
| 변위, 최대 | 약 2001 | 약 2001 | 약 2001 | μm |
| 디지털 해상도, 변위 측정 | ≤ 0.002 | ≤ 0.002 | ≤ 0.002 | nm |
| 배경 잡음, 변위 측정(8Hz에서 1σ) | ≤ 0.4 | ≤ 0.3 | ≤ 0.3 | nm |
| 배경 잡음, 변위 측정(폐쇄회로 모듈에서 1σ) | - | ≤ 0.2 | ≤ 0.2 | nm |
| 치수 | ||||
| 높이 | 162.6 | 163 | 158 | mm |
| 가로 | 232 | 232 | 200 | mm |
| 세로 | 109 | 109 | 50 | mm |
| 동적 모듈4 | ||||
| 진동 주파수 | 300 | 300 | 300 | Hz |
| 강성 평가 최대 주파수 | 75 | 75 | 25 | Hz |
| 데이터 획득 속도 | 40 | 40 | 40 | kHz |
| 진동의 최대 힘 진폭 | > 100 | > 100 | > 100 | mN |
| 무게, 약 | 4 | 4 | 1.5 | kg |
- 압축(예: 계장화 압흔 시험) 및 인장(예: 액체 접착 측정)
- ≤ 20, 20N에서 ≤ 65
- 신호 대 잡음비 106
- QCSM 소프트웨어 모듈과 함께일 때만
| 설명 | 값 | |
| 품목 번호 | 1021148 | |
| 시험 하중, 최대, (Fmax), 측방향1 | 약 2 | N |
| 디지털 해상도, 힘 측정 | ≤ 0.02 | μN |
| 배경 잡음, 힘 측정 | ≤ 6 | μN |
| 이동, 최대1 | 약 75 | μm |
| 디지털 해상도, 변위 측정 | ≤ 0.002 | nm |
| 배경 잡음, 변위 측정 | ≤ 0.5 | nm |
- 압축 및 인장
다양한 광학 옵션
표준으로 텐덤 현미경과 50x 렌즈는 ZHN 공급 범위에 포함됩니다. 작업 거리가 확장된 50x 렌즈는 옵션으로 사용 가능합니다. 또한 5x 렌즈나 백색광 간섭계 를 두 번째 렌즈로서 통합하는 옵션이 있습니다.
(반)자동 종합 분석을 수행하기 위해 나노 압흔과 원자력현미경(AFM)을 하나의 시스템에 통합할 수 있습니다. 첫 번째 단계로 원자력현미경이 표면 거칠기를 측정합니다. 이는 최소 압흔 깊이를 정의하는 데 도움이 됩니다. 그런 다음 시편은 동일한 위치에서 기계적 분석을 수행할 수 있도록 나노 압자 아래에 배치합니다. 마지막 단계에서 이 위치를 원자력현미경(AFM) 아래로 다시 이동하여 재료 "파일업(pile-up)" 및 "싱크인(sink-in)" 또는 압자 주변의 크랙과 같은 응력 유발 속성의 특징을 규정하고 이해합니다. 그러면 이러한 효과가 경도 값과 영률 값에 영향을 미칠 수 있습니다.
광학장치의 장점
- 50x 대물 렌즈 - 빔 스플리터와 중간 렌즈를 통해 광학 경로가 두 대의 카메라로 향함
- 광학 이미지 내에서 다음이 가능함
측정 지점 정의- 거리 및 둘레 측정
- 버튼을 눌러 기존 측정 지점 검토 및 표시
- 조명 및 이미지 파라미터 제어
- 눈금 및 기록 시간 표시
- 기계적으로 렌즈 교환을 할 필요가 없어 위치 정확도가 높고 배율을 신속하게 전환할 수 있음
- 유리 같은 저반사 표면에 대해서도 높은 품질의 이미지를 생성할 수 있음
- 자동 초점 기능을 통해 선명한 이미지를 위한 정확한 높이 설정
- 측정 지점 이미지 자동 생성(프로그램 가능)
- 피사계 심도가 큰 개별 이미지로 구성된 전체 이미지
추가 ZHN 액세서리
단열/방음용 덮개
댐핑 시스템/보조 테이블
