ZHN/SEM - Taramalı elektron mikroskobu için Nanoindenter

ZHN / SEM, bir taramalı elektron mikroskobu'nun (SEM) vakum kabininin sınırlı alanında kullanılmak üzere özel olarak tasarlanmış eksiksiz bir nanoindenterdir.
Image

Önemli avantajlar ve özellikler

  • Batıcı uçlar çok çeşitli müşteri gereksinimlerine uyarlanabilir.
  • Kapalı veya açık döngüde kuvvet ve sürüş kontrolü mevcuttur.
  • Yorulma ve sürekli sertlik ölçümleri için 100 Hz'ye kadar olan frekanslara sahip dinamik bir ölçüm yöntemi bir seçenek olarak mevcuttur.
  • Ölçüm başlığın özelliği, tüm ölçüm aralığı boyunca sıkıştırma ve gerilme kullanılabilirliğidir.
  • Video senkronizasyonu: Kayıt resmi, verileri TCP-IP üzerinden REM bilgisayarında ek bir pencereye ileterek gerçekleştirilebilir.

Kullanım alanı

Nanoindenter ZHN/SEM, bir taramalı elektron mikroskobu (SEM)'ye kurulum için, numuneyi en yüksek çözünürlükte gözlemlerken mikromekanik testlerin uygulanmasına olanak sağlar. Şu anda mevcut olan en büyük ölçüm aralığı 200 µm maksimum yer değiştirme ölçümü ve azami 200 mN'lik bir kuvvet ile eş zamanlı olarak düşük titreşimli bir ortamda kuvvet ve yer değiştirme sensörlerinin gürültüsü ile birlikte sunmaktadır. Sertliği o kadar yüksektir ki, geleneksel sertlik ölçümleri herhangi bir sorun olmadan yapılabilir.

Standart sistem çeşitli SEM'lerin masa üstü sistemlerine kurulum için geliştirilmiştir, ancak aynı zamanda oda duvarına da monte edilebilir. REM tablosunun mevcut devirme seçenekleri ve deplasman seçenekleri daha fazla kullanılabilir.

  • Sistem şunlardan oluşur:
  • sensörler ve aktüatörlü ölçüm başlığı
  • XY Yönünde örnek deplasman için piezo masa sistemi ve gösterge ekseni etrafında isteğe bağlı rotasyon
  • ölçüm başlığın numuneye doğru hareket ettirmek için sert bir mekanik Z tablosu
  • Bilgisayar ve kontrolör
  • kullanımı kolay ve çok esnek yazılım
  • uygulamalı bir veya iki flanş (SEM'e özgü)

Teknik Genel Bakış

ZHN0.2/SEM Ölçme başlığı

Ürün No.

1020054

Tip

ZHN/SEM

Test kuvveti, maks. (Fmax)

yaklaşık 200

mN[1]

Sapma, maks.

20 mN'de yaklaşık 200 um; 200 mN'de yaklaşık 1500 μm

Dijital çözünürlük

≤ 0,02

μN

Hareket çözünürlüğü, dijital

≤ 0,001

nm

Gürültü seviyesi kuvvet ölçümü (RMS)

≤ 0,5

μN

Gürültü seviyesi deplasman ölçümü (RMS)

≤ 0,5

nm

Masa sistemi

X- ve Y-Masası: Hareket alanı (Standart)

21 x12

mm

X- ve Y-Masası: Konumlandırma doğruluğu

≤ 50

nm

X- ve Y-Masası: Ölçüm sisteminin çözünürlüğü

1

nm

Z-Masa: Hareket alanı

15 (opsiyonlu 25)

mm

Z-Masa: Konumlandırma doğruluğu

≤ 0,1

μm

Z-Masa: Ölçüm sisteminin çözünürlüğü

50

nm

  1. Basma ve çekme
  • Bir Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) kullanımında
  • Uç, kontrol elektroniği, kontrol ünitesi, monitör, klavye ve fare ile birlikte

ZHN/SEM ölçümleri

ZHN/SEM ölçümleri

Characterization of coatings in the nano range

As coatings become thinner, the difficulty in determining their physical properties increases. The limits of previously tried and tested surface engineering techniques are encountered and results become unreliable. Available from ZwickRoell is an efficient solution to this problem in the form of a tester developed specifically for characterizing mechanical surface properties in the micro and nano ranges.
LFU_01
YUKARI