- Ensaio de dureza conforme ISO 14577
- Ensaios dinâmicos
- 0 - 0,2 N
- Pesquisa & Desenvolvimento (em um SEM)
Pequeno, mas de primeira
O nano-indentador ZHN/SEM para instalação em um microscópio eletrônico de varredura (SEM) permite a execução de experimentos micro-mecânicos com observação simultânea da amostra com máxima resolução. Ele oferece a maior faixa de medição disponível atualmente com a medição de deslocamento máximo de 200 μm e a força máxima de 200 mN e ao mesmo tempo ruído muito baixo dos sensores de força e de deslocamento em um ambiente de baixa vibração. Sua rigidez de equipamento é tão elevada que medições de dureza convencionais podem ser realizadas sem problemas.
O sistema padrão foi desenvolvido para a instalação no sistema de mesa de diferentes SEMs, mas ele também pode ser montado na parede da câmara. Dessa forma é possível continuar a aproveitar as opções de basculamento e de deslocamento existentes da mesa SEM.
O sistema é formado:
- pelo cabeçote de medição com sensores e atuador
- por um sistema de mesa piezoelétrico para deslocamento de amostras no sentido XY e rotação opcional ao redor do eixo do indentador
- por uma mesa Z mecânica e rigida para deslocamento do cabeçote de medição no sentido da amostra
- PC e controlador
- software de fácil utilização e muito flexível
- um ou dois flanges com passagens (SEM específico)
Vantagens e Características
- O indentador pode ser adaptado aos requisitos dos clientes abrangendo uma grande área.
- Controles da força e do deslocamento na malha de controle fechada ou aberta estão disponíveis.
- Um método de medição dinâmico com frequências de até 100 Hz para medições de fadiga e medições contínuas de rigidez está disponível como opção.
- Uma característica especial do cabeçote de medição é a possibilidade de utilização no sentido de compressão e no sentido de tração sobre toda a faixa de medição.
- Sincronização de vídeo: Pode ser realizada com a imagem captada por meio de transmissão dos dados via TCP-IP para uma janela adicional no computador SEM.
Visão geral técnica
| Descrição | Valor | |
| Artigo nº | 1020054 | |
| Tipo | ZHN/SEM | |
| Força de ensaio, máx. (Fmáx) | aprox. 200 | mN1 |
| Deslocamento, máx. | aprox. 200 μm com 20 mN; aprox. 1500 μm com 200 mN | |
| Resolução de força, digital | ≤ 0,02 | μN |
| Resolução de deslocamento, digital | ≤ 0,001 | nm |
| Nível de ruído da medição de força (RMS) | ≤ 0,5 | μN |
| Nível de ruído do medição de deslocamento (RMS) | ≤ 0,5 | nm |
| Sistema de mesa | ||
| Mesa X e mesa Y: Faixa de movimento (padrão) | 21 x12 | mm |
| Mesa X e mesa Y: Exatidão de posição | ≤ 50 | nm |
| Mesa X e mesa Y: Resolução do sistema de medição | 1 | nm |
| Mesa Z: Faixa de movimento | 15 (opcional 25) | mm |
| Mesa Z: Exatidão de posição | ≤ 0,1 | μm |
| Mesa Z: Resolução do sistema de medição | 50 | nm |
- Compressão e tração
Exemplos de aplicação do ZHN/SEM
Adaptação do nanoindentador a um microscópio eletrônico de varredura
Ensaio de compressão sobre cobre de cristal único
Experiências de resistência à ruptura em tungstênio
