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ZHN/SEM

Nano indenteur pour macroscope électronique à balayage Téléchargement
Applications
  • Essai de dureté selon ISO 14577 Dynamische Tests
Charge d'essai
  • 0 - 0,2 N
Domaine d'utilisation
  • Recherche & Développement (dans un SEM)

Petit mais haute résolution

Le nano-indenteur ZHN/SEM pour installation dans un microscope électronique à balayage (SEM) permet la mise en œuvre d'expériences micro-mécaniques tout en observant l'éprouvette avec une résolution très élevée. Il offre la plus large plage de mesure du marché avec une mesure de course maximale de 200 μm et une mesure de force maximale de 200 mN ainsi qu'un très faible bruit des capteurs de foce et de course dans un environnement soumis à de faibles vibrations. La rigidité élevée de l'appareil permet la réalisation des mesures de dureté classiques.

Le système a été conçu pour une installation sur la table d'un microscope SEM, mais peut également être fixé au mur pour une utilisation optimisée des options de basculement et déplacement de la table SEM.

Le système se compose de:

  • la tête de mesure avec capteur et actuateur
  • un système de table Piezo pour déplacement des éprouvettes en direction XY et rotation optionnelle autour de l'axe du pénétrateur
  • une table mécanique rigide en Z pour le déplacement de la tête de mesure en direction de l'éprouvette
  • PC et contrôleur
  • logiciel simple et interactif
  • une ou deux brides avec passages (spécifique SEM)

Avantages et caractéristiques

  • Le pénétrateur peut être adapté sur demande à de nombreuses applications.
  • Le contrôle de la force et de la course en boucle fermée ou ouverte est proposé.
  • Une méthode de mesure dynamique avec fréquences jusqu'à 100 Hz pour mesures de rigidité en fatigue et en continu est offert en option.
  • La tête de mesure peut être utilisée en direction de compression et de traction sur toute la plage de mesure.
  • Enregistrement vidéo simultané Grâce à la transmission des données par TCP-IP, l'image enregistrée peut être visionnée sur l'ordinateur SEM dans une fenêtre supplémentaire.

Aperçu technique

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Téléchargements

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  • Information produit: ZHN/SEM - Nano indenteur pour microscope électronique à balayage PDF 1 MO
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