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ZHN/SEM

Nano indenteur pour macroscope électronique à balayage Téléchargement
Applications
  • Essai de duretĂ© selon ISO 14577 Dynamische Tests
Charge d'essai
  • 0 - 0,2 N
Domaine d'utilisation
  • Recherche & DĂ©veloppement (dans un SEM)

Petit mais haute résolution

Le nano-indenteur ZHN/SEM pour installation dans un microscope Ă©lectronique Ă  balayage (SEM) permet la mise en Ɠuvre d'expĂ©riences micro-mĂ©caniques tout en observant l'Ă©prouvette avec une rĂ©solution trĂšs Ă©levĂ©e. Il offre la plus large plage de mesure du marchĂ© avec une mesure de course maximale de 200 ÎŒm et une mesure de force maximale de 200 mN ainsi qu'un trĂšs faible bruit des capteurs de foce et de course dans un environnement soumis Ă  de faibles vibrations. La rigiditĂ© Ă©levĂ©e de l'appareil permet la rĂ©alisation des mesures de duretĂ© classiques.

Le systĂšme a Ă©tĂ© conçu pour une installation sur la table d'un microscope SEM, mais peut Ă©galement ĂȘtre fixĂ© au mur pour une utilisation optimisĂ©e des options de basculement et dĂ©placement de la table SEM.

Le systĂšme se compose de:

  • la tĂȘte de mesure avec capteur et actuateur
  • un systĂšme de table Piezo pour dĂ©placement des Ă©prouvettes en direction XY et rotation optionnelle autour de l'axe du pĂ©nĂ©trateur
  • une table mĂ©canique rigide en Z pour le dĂ©placement de la tĂȘte de mesure en direction de l'Ă©prouvette
  • PC et contrĂŽleur
  • logiciel simple et interactif
  • une ou deux brides avec passages (spĂ©cifique SEM)

Avantages et caractéristiques

  • Le pĂ©nĂ©trateur peut ĂȘtre adaptĂ© sur demande Ă  de nombreuses applications.
  • Le contrĂŽle de la force et de la course en boucle fermĂ©e ou ouverte est proposĂ©.
  • Une mĂ©thode de mesure dynamique avec frĂ©quences jusqu'Ă  100 Hz pour mesures de rigiditĂ© en fatigue et en continu est offert en option.
  • La tĂȘte de mesure peut ĂȘtre utilisĂ©e en direction de compression et de traction sur toute la plage de mesure.
  • Enregistrement vidĂ©o simultanĂ© GrĂące Ă  la transmission des donnĂ©es par TCP-IP, l'image enregistrĂ©e peut ĂȘtre visionnĂ©e sur l'ordinateur SEM dans une fenĂȘtre supplĂ©mentaire.

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  • Information produit: ZHN/SEM - Nano indenteur pour microscope Ă©lectronique Ă  balayage PDF 1 MO
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