- Test di durezza secondo ISO 14577
- Test dinamici
- 0 - 0,2 N
- Ricerca & Sviluppo (SEM)
Piccolo ma potente
Il nanoindentatore ZHN/SEM per l'installazione in un microscopio elettronico a scansione (SEM) consente di eseguire studi micromeccanici osservando il provino con la massima risoluzione. È caratterizzato dal più ampio campo di misura attualmente disponibile, con una misura di corsa massima di 200 µm ed una forza massima di 200 mN, sensori di forza e di spostamento a bassissimo rumore in un ambiente a basse vibrazioni. La rigidità dello strumento è così elevata che le misure di durezza convenzionali possono essere eseguite senza difficoltà.
Il sistema standard è stato concepito per l'installazione sul piano del microscopio SEM, ma può essere fissato anche a parete. Con questo sistema si possono utilizzare le opzioni esistenti di inclinazione e posizionamento del SEM.
Il sistema è composto da:
- testa di misura con sensori e attuatore
- sistema con piano piezoelettrico per il posizionamento dei campioni in direzione XY e la rotazione opzionale intorno all'asse del penetratore
- Piano meccanico rigido a Z per lo spostamento della testa di misura verso il provino
- PC e controller
- software facile da usare, altamente flessibile
- una o due flange passanti (specifiche per SEM).
Vantaggi e caratteristiche
- Il penetratore può essere personalizzato in base alle esigenze del cliente.
- Il controllo della forza e dello spostamento è disponibile con closed o open loop.
- Metodo di misura dinamico con frequenze fino a 100 Hz per misurazioni di fatica e rigidità continua disponibile come opzione.
- La testa di misura può essere utilizzata nelle direzioni di compressione e trazione su tutto il campo di misura.
- Sincronizzazione video: l'immagine registrata può essere mostrata trasferendo i dati ad un'ulteriore finestra del computer SEM via TCP/IP.
Descrizione tecnica
| Descrizione | Valore | |
| N° item | 1020054 | |
| Tipo | ZHN/SEM | |
| Carico di prova, max (Fmax) | circa 200 | mN1 |
| Spostamento, max | circa 200 µm a 20 mN; 1500 µm a 200 mN | |
| Risoluzione della forza, digitale | ≤0,02 | μN |
| Risoluzione dello spostamento, digitale | ≤0,001 | nm |
| Livello rumore, misurazione della forza (RMS) | ≤0,5 | μN |
| Livello rumore, misurazione della forza (RMS) | ≤0,5 | nm |
| Sistema da tavolo | ||
| Tavola X e Y: range di misurazione (standard) | 21 x12 | mm |
| Tavola X e Y: accuratezza di posizionamento | ≤50 | nm |
| Tavola X e Y: risoluzione sistema di misurazione | 1 | nm |
| Tavola Z: range di movimento | 15 (opzionale 25) | mm |
| Tavola Z: accuratezza posizionamento | ≤0,1 | μm |
| Tavola Z: risoluzione sistema di misurazione | 50 | nm |
- Compressione e trazione
Applicazioni tipiche per ZHN/SEM
Fissaggio del nanoindentatore al microscopio elettronico a scansione
Test di compressione su monocristallo di rame
Determinazione della resistenza alla frattura su tungsteno
Determinazione della plasticità del cristallo in base alla dimensione
Progetti interessanti dei nostri clienti
