- Ensayo de dureza según ISO 14577
- Ensayos dinámicos
- 0 / 0,2 N
- Investigación y Desarrollo (en un REM)
Pequeño pero con grandes prestaciones
El nanoindentador ZHN/SEM para instalación en un microscopio electrónico de barrido (REM) permite llevar a cabo experimentos micromecánicos observando la probeta simultáneamente a máxima resolución. Actualmente, es el que ofrece el rango de medición más grande con una medición máxima de recorrido de 200 μm y una fuerza máxima de 200 mN con un ruido muy reducido de los sensores de fuerza y recorrido en un ambiente de bajas vibraciones. El equipo muestra una rigidez tan elevada que se pueden llevar a cabo mediciones de dureza convencionales sin problemas.
El sistema estándar ha sido desarrollado para la instalación de diferentes microscopios REM sobre el sistema de mesas, pero también se puede montar en la pared de la cámara. Se pueden continuar utilizando las opciones de vuelco y desplazamiento de la mesa REM.
El sistema está formado por:
- el cabezal de medición con sensores y actuador
- un sistema de mesa piezoeléctrico para el desplazamiento de la probeta en sentido XY y giro opcional alrededor del eje del indentador
- una mesa Z mecánica rígida para el desplazamiento del cabezal de medición en sentido hacia la probeta
- PC y controlador
- software simple, útil y muy flexible
- una o dos bridas con pasantes (específicas para REM)
Ventajas y características
- El indentador se puede adaptar entre un amplio rango de requisitos del cliente.
- Control de fuerza y recorrido disponible en el circuito de regulación cerrado o abierto.
- Un método de medición dinámico con frecuencias disponibles de hasta 100 Hz para mediciones de fatiga y mediciones continuas de rigidez de forma opcional.
- Una característica destacada del cabezal de medición es su gran utilidad en sentido de compresión y tracción en todo el rango de medición.
- Sincronización del vídeo: La imagen capturada se puede visualizar mediante la transmisión de datos vía TCP-IP, en una ventana adicional en el PC REM.
Descripción técnica
| Descripción | Valor | |
| N.º artículo | 1020054 | |
| Tipo | ZHN/SEM | |
| Fuerza de ensayo, máx. (Fmáx.) | aprox.. 200 | mN1 |
| Desplazamiento, máx. | aprox. 200 μm a 20 mN; aprox. 1500 μm a 200 mN | |
| Resolución de carga, digital | ≤ 0,02 | μN |
| Resolución del recorrido, digital | ≤ 0,001 | nm |
| Nivel de ruido de la medición de fuerza (RMS) | ≤ 0,5 | μN |
| Nivel de ruido de la medición de recorrido (RMS) | ≤ 0,5 | nm |
| Sistema de mesas | ||
| Mesa X e Y: Área de movimiento (estándar) | 21 x12 | mm |
| Mesa X e Y: Precisión de posicionamiento | ≤ 50 | nm |
| Mesa X e Y: Resolución del sistema de medición | 1 | nm |
| Mesa Z: Rango de movimiento | 15 (opcional 25) | mm |
| Mesa Z: Precisión de posicionamiento | ≤ 0,1 | μm |
| Mesa Z: Resolución del sistema de medición | 50 | nm |
- Compresión y tracción
Aplicaciones típicas del ZHN/SEM
Adaptación del nanoindentador a un microscopio electrónico de barrido
Ensayo de compresión en monocristal de cobre
Experimentos de tenacidad a la fractura en tungsteno
