Nanoindenter ZHN
Download
Anwendungen
- Härteprüfung nach ISO 14577
- Scratch-Tests
- Verschleiß-Tests
- Dynamische Tests
- Profilometer
Prüflast
- 0 - 20 N
Einsatzgebiet
- Forschung & Entwicklung
Eine neue Dimension
Die umfassende mechanische Charakterisierung dünner Schichten oder kleiner Oberflächenbereiche mit der notwendigen Kraft- und Wegauflösung – das ist das Anwendungsfeld des ZHN Nanoindenters. Dies beinhaltet die Messung von Eindringhärte, Eindringmodul und Martenshärte gemäß ISO 14577 (instrumentierte Eindringprüfung).
ZHN Nanoindenter für die Prüfung an Metallen und Industriewerkzeugen
Die umfassende mechanische Charakterisierung dünner Schichten oder kleiner Oberflächenbereiche mit der notwendigen Kraft- und Wegauflösung – das ist das Anwendungsfeld des ZHN Nanoindenters.
Technischer Überblick
Modularer Aufbau bestehend aus
- 2-säuligem Lastrahmen mit Zentralspindel-Antrieb, Präzisionsführung und Granitsockel
- Motorischem Zentralspindel-Antrieb und programmierbarem motorischem Kreuztisch
- 3-Achsen-Schrittmotor-Steuerung als PCI-E Einsteckkarte
- Tandem-Mikroskop mit 2 Kameras und LED-Auflichtbeleuchtung LED grün
- Steuerelektronik für Maschine und Messkopf
- Austauschbaren Messköpfen bis 20 N
- Steuer- und Auswertesoftware InspectorX
- SW-Modulen für Autofokus
- SW-Modul für Übersichtsbild aus zusammengesetzten Einzelbildern mit großer Schärfentiefe
Artikel-Nr. | 1011428 | |
Maße (H x B x T) | 790 x 640 x 390 | mm |
Gewicht | ca. 105 | kg |
Elektrische Spannung | 230 | V |
Optik | ||
Tandem-Mikroskop mit zwei Videokameras | 1280 x 1024 Pixel, USB 3.0-Verbindung | |
Beleuchtung | grüne LED, max. Leistung 1 W | |
Objektiv | 50 x1 [ 5 x ]2 | |
Arbeitsabstand | 0,38 / 10,6 3 [ 10,6 ] | mm |
Optische Vergrößerung auf 23'' (Kamera 1/Kamera 2) | 1000 x / 3350 x [ 100 x / 335 x ] | |
Bildfeld (Kamera 1/Kamera 2) | 324 x 259 μm / 96 x 77 μm [ 3,2 x 2,6 mm / 0,97 x 0,77 mm ] | |
Pixelauflösung klein/groß (Kamera 1/Kamera 2) | 254 nm / 76 nm [ 2540 nm / 760 nm ] | |
Tischsystem | ||
X-Tisch Verfahrweg | 100 mm, Schrittweite 50 nm | |
Y-Tisch Verfahrweg | 200 mm, Schrittweite 50 nm | |
Z-Tisch Verfahrweg | 70 mm, Schrittweite 10 nm | |
Maximale Probengröße (X x Y x Z) | 80 x 80 x 60 | mm |
Maximale Länge eins Scratch-Tests | 254 | mm |
- im Standard-Lieferumfang enthalten
- 5 x-Objektiv mit manueller Verschiebung, siehe Optikvarianten
- Long Distance-Objektiv, siehe Optikvarianten
- abhängig von der Ebenheit der Probenoberfläche
Haben Sie Fragen zum Produkt?
Nehmen Sie Kontakt zu unseren Produktexperten auf.
Wir beraten Sie gerne!
Passende Produkte und Zubehör
Downloads
Name
Typ
Größe
Download
- Produktbroschüre: Härte prüfen mit ZwickRoell PDF 2 MB
- Produktinformation: ZHN - Universelles Nanomechanisches Prüfsystem PDF 2 MB
- Produktinformation: Probenhalter für den Nanoindenter ZHN PDF 361 KB
- Produktinformation: ZHN/SEM - Nanoindenter für Rasterelektronenmikroskope PDF 1 MB
- Produktinformation: Probenheizer bis 400 °C für Hochtemperatur-Nanoindentation PDF 418 KB